MCVT405 CT/PT-analysaattori

Kääntösuhteen testi.

Suhdevirheen ja vaihekulman virhetesti.

Toissijainen rasitustesti.

Nimikilven arvaus.

CT-jäännösmagnetismin määritys ja demagnetointi.

Napaisuuden tarkistus.

ALF & FS.

Lähetä meille sähköpostia

ominaisuudet

Tekninen indeksi

CT:n ja PT:n suhdevirhetesti.

Impedanssi- ja sisäänpääsytesti.

LCD-näytön ja kosketusnäytön toiminta.

Ääni- ja valohälytys Toiminto, kun napaisuus on epänormaali tai suhde epäjohdonmukainen.

RS232-tiedonsiirtoportilla.

PC-ohjelmiston kanssa.

Sisäänrakennetulla tulostimella (valinnainen).

Pääpiirteet

CT-testi

PT testi

1) Virityskäyrän ja parametrien testi2) Kierrossuhteen testi

3) Suhde- ja vaihevirhetesti

4) Napaisuusmerkin tarkistus

5) Käämivastuksen mittaus

6) Toissijaisen kuormituksen mittaus

7) CT-suojauksen virheviivakäyrätesti

8) Ohimenevien CT-parametrien testi

9）CT-nimikilven arvaus

10) Saturaatiohystereesisilmukkakäyrän mittaus

11) CT-jäännösmagnetismin määritys ja demagnetointi

1) Kääntymissuhdetesti2) Suhdevirhetesti

3) Vaihekulmavirhetesti

4) Napaisuustesti

5) Toissijainen kuormitustesti

6) Käämin vastustesti

• Tarkkuusraja-arvokerroin (ALF) • Laitteen turvakerroin (FS)

Sovellukset

• CT-nimikilven arvaus

• CT-parametrit tarkistavat työtaakan

• PT-rutiinitesti

• CT-transienttiparametrien analyysi

• CT-suhteen ja vaihevirheen kalibrointi

Edellinen: HEWE-sarjan muuntajatesteri

Seuraava: CT/PT-analysaattori MCVT01C

1) Testistandardit: IEC60044-1, IEC60044-6, IEC60044-2, IEC60044-5, C57.13

2) Virtalähde: AC220V±10%, 50/60Hz±10%

3) Jännite/virtalähtö: 0,1 ~ 180 V (AC) / 0,001 ~ 5 A (RMS)

5) Lähtöteho: 500VA

6) Suurin polvijännitteen mittaus: 45KV

7) Virran mittaus
Alue: 0-10A (muuta aluetta automaattisesti 0,1/0,4/2/10A)
Virhe: <±0,1%+0,01%FS

8) Jännitteen mittaus
Alue: 0 ~ 200 V (muuta automaattisesti aluetta 1V/10V/70V/200V)
Virhe: < ±0,1 %+0,01 %FS

9) Kääntyy suhteen mittaus & virhe
Alue: 1-35000
1-5000 (virhe<0,05 %) ja 5000-35 000 (virhe < 0,1 %)

10) Vaihemittausvirhe: ±2 min & resoluutio: 0,01 min

11) Käämitysvastuksen mittaus
Alue: 0 ~ 8kΩ (muuta automaattisesti aluetta 2 ohm/20ohm/80ohm/800ohm/8kohm)
Virhe: < 0,2 %RDG+0,02 %FS
Suurin resoluutio: 0,1 mΩ

12) Lämpötilan mittaus: -50 ~ 100 Celsius-aste;virhe <3 celsiusastetta

13) CT Toissijainen taakka
Alue: 0～160ohm (muuta automaattisesti aluetta 2ohm/20ohm/80ohm/160ohm)
Virhe: <0,2%RDG+0,02%FS
Suurin resoluutio: 0,001 ohm

14) PT Toissijainen taakka
Alue: 0～80kohm (muuta aluetta automaattisesti 800ohm/8kohm/80kohm)
Virhe: <0,2%RDG+0,02%FS
Suurin resoluutio: 0,1 ohm

15) PT-suhteen mittaus ja virhe
Alue: 1-35000
1-10 000 (virhe < 0,1 %) ja 10 000 ~ 35 000 (virhe < 0,2 %)

16) PT-suhteen virheen mittaus: Tyypillinen virhe <0,05%, Maksimivirhe <0,1%

17) PT-vaihekulman mittaus: maksimivirhe < 3 min

18) Tee testitulosten arviointi valittujen standardien mukaisesti

19) Tee sanaraportti testituloksesta

20) Tee sanaraportit kerran usean ryhmän testitietueita varten PC:llä

21) Laske suhdevirheet ja vaihekulmavirheet nimelliskuormalla ja työkuormalla yhdellä kertaa

22) Vertaa virityskäyriä tallennettuihin virityskäyriin samassa ikkunassa

23) Muistin kapasiteetti: >1000 ryhmää testituloksia

24)Käyttötila: lämpötila: -10℃～50℃;kostea: ≤90 %

25) Koko: 485mm × 356mm × 183mm